其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
SEM,全称为扫描电子显微镜,又称扫描电镜,英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM,全称为透射电子显微镜,又称透射电镜,英文名Transmission Electron Microscope.
区别:
SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度,也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。
SEM样品要求不算严苛,而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下,一般做成直径3mm的片,然后去做离子减薄,或双喷(或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求)。
TEM可以标定晶格常数,从而确定物相结构;SEM主要可以标定某一处的元素含量,但无法准确测定结构。
解释:
abbr. 扫描式电子显微镜(scanning electron microscope);标准电子组件(Standard Electronic Modules)
n. (Sem)(泰、柬)森(人名);(Sem)(西、挪)塞姆(人名)
读法:
英 [,es i: 'em]
用法:
SEM-EDS 能谱 能谱分析 扫描电镜
SEM-EDX 分析 能谱分析 能谱仪 谱分析
TSINGHUA SEM 理学院 清华经管学院 清华大学经济管理学院
近义词:
microscope
读法:
英 [ˈmaɪkrəskəʊp] 美 [ˈmaɪkrəskoʊp]
解释:
n. 显微镜
用法:
Scanning electron microscope 扫描电子显微镜 扫描电镜 扫描式电子显微镜 电子显微镜
Digital Microscope 数码显微镜 该相机还支持数码显微 数字显微镜 显微数码
petrographic microscope 岩相显微镜 岩相显微镱 [光] 岩石显微镜
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