SEMEDX在测表面元素的时候测得多深？拜托了各位 谢谢

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素。 查看原帖>>

国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的） 2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得测那些无极性的大杂质颗粒，但这样容易碰坏针尖，针尖一般只有几个原子。 反正我觉得没法测。 EDX这个我不清楚，似乎是可以的。 你是不是吧SEM看错了，是SERS（表面增强拉曼）吧。

第一篇SEM/EDX检测射击残留物判断射击距离的研究 目的：判断射击距离是枪案检验必须解决的重要问题之一，对于犯罪现场重建发挥着关键作用。射击距离的判断主要是依赖于射入口周围射击残留物(GSR)的量和分布。制式枪械及枪弹的品种规格是固定的，发射后GSR的分布和金属成分的含量等也应该基本一致，因此可以根据GSR来推断射击距离与枪弹类型。GSR的形成是底火和枪支材料在高温高压下，快速气化压缩，飞出枪管后迅速固化的结果。目前检测GSR的方法很多，但由于其检测的准确性、灵敏度以及GSR形态观察方面的缺陷而限制其应用的范围。

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