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扫描电镜能谱分析通过激发原子发射特征X射线来确定成份,只能测试材料表面,根据电压不同测试的厚度不同,且轻元素是测试不了的,不记得是Be还是B之前的元素了,反之从C开始都能测试到,准确性很差。这里面有几个问题:1、钢的整体的碳成分是多少并不表示任何一点的碳成分均是这个数字,钢里有贫碳相如铁素体,也有富碳相如渗碳体,打在不同的部位得数也不一样;2、碳是轻元素,成分测量的误差本来就较大;3、eds本身的精度不高,只做定性分析之用,不做定量之用。SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观测并拍摄局部异常照片和测量异常尺寸、测量芯片关键尺寸线宽和孔径、定性和定量分析异常污 染物的化学元素组成。
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