关于材料科学的问题,照了TEM图片,怎么统计晶粒大小?最好详细一些

关于材料科学的问题,照了TEM图片,怎么统计晶粒大小?最好详细一些,第1张

你没太说清楚照的是啥,什么尺度。如果是HRTEM高分辨的,你一个视野内可以看到好多晶粒的那种,你可以任意拉一条直线,固定长度,然后数这条线穿过了多少个晶粒。数好了数量之后由线段长度除以晶粒数量,任意取三条线,取平均,就得到平均晶粒大小了。

一般情况下测定平均晶粒度有三种基本方法:比较法面积法、截点法。具体如下

1、比较法:比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较,用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。

2、面积法:面积法是计算已知面积内晶粒个数,利用单位面积晶粒数来确定晶粒度级别数。该方法的精确度中所计算晶粒度的函数,通过合理计数可实现±0.25级的精确度。面积法的测定结果是无偏差的,重现性小于±0. 5级。面积法的晶粒度关键在于晶粒界面明显划分晶粒的计数

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图:面积法

3、截点法:截点数是计算已知长度的试验线段(或网格)与晶粒界面相交截部分的截点数,利用单位长度截点数 来确定晶粒度级别数。截点法的精确度是计算的截点数或截距的函数,通过有效的统计结果可达到 ±0.25级的精确度。截点法的测量结果是无偏差的,重现性和再现性小于±0.5级。对同一精度水平,截点法由于不需要精确标计截点或截距数,因而较面积法测量快。

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同心圆测量线(截点法)

楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒尺寸完全是两回事。

用马尔文激光粒度仪可以测的纳米颗粒的颗粒尺寸,以及分布范围。楼主说的恐怕是要用SEM观察到颗粒后,统计平均颗粒粒径吧。那个软件叫image-pro plus 。建议使用5.1版。

有问题再留言给我。相信可以帮到你


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