解释:
abbr. 扫描式电子显微镜(scanning electron microscope);标准电子组件(Standard Electronic Modules)
n. (Sem)(泰、柬)森(人名);(Sem)(西、挪)塞姆(人名)
读法:
英 [,es i: 'em]
用法:
SEM-EDS 能谱 能谱分析 扫描电镜
SEM-EDX 分析 能谱分析 能谱仪 谱分析
TSINGHUA SEM 理学院 清华经管学院 清华大学经济管理学院
近义词:
microscope
读法:
英 [ˈmaɪkrəskəʊp] 美 [ˈmaɪkrəskoʊp]
解释:
n. 显微镜
用法:
Scanning electron microscope 扫描电子显微镜 扫描电镜 扫描式电子显微镜 电子显微镜
Digital Microscope 数码显微镜 该相机还支持数码显微 数字显微镜 显微数码
petrographic microscope 岩相显微镜 岩相显微镱 [光] 岩石显微镜
具有磁性的材料不能做SEM.采用磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强,轻则干扰成像,重则被测试样粉末被吸附到镜头上,损坏仪器。
理论上,磁性是物质的一种属性,任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的,我们只能要求其磁性小于某一范围。如果是热发射sem磁性要求要低一些,如果是场发射sem,则要求就要严格的多。比如铁,钴,镍为铁系元素,其化合物磁性较强,因而一般不能直接测,所以要将有磁性的材料进行消磁处理就可以了。
扫描电镜能谱分析通过激发原子发射特征X射线来确定成份,只能测试材料表面,根据电压不同测试的厚度不同,且轻元素是测试不了的,不记得是Be还是B之前的元素了,反之从C开始都能测试到,准确性很差。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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