SEM、TEM、TG、XRD、AFM、红外光谱，这几个分别是测什么的？

测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。

区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收峰的位置与强度反映了分子结构上的特点，可以用来鉴别未知液态水的红外光谱物的结构组成或确定其化学基团；而吸收谱带的吸收强度与化学基团的含量有关，可用于进行定量分析和纯度鉴定。l红外主要用于有机化合物的结构鉴定在有机化学、生物化学、药物学、环境科学等许多领域。

SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观测并拍摄局部异常照片和测量异常尺寸、测量芯片关键尺寸线宽和孔径、定性和定量分析异常污 染物的化学元素组成。

1.测量仪圆弧传感器表面粗糙度测量仪圆弧传感器。以往的普通平面粗糙度传感器导头与测针针尖之间有1-2mm的距离，在测量曲面时，导头与被测工件的接触点与测针针尖不在同一水平线上。由于导头是有导头传感器的测量基准，在测量曲面时，导头基准与测量针尖不在同一轮廓点，由此带来了测量误差，影响测量精度。表面粗糙度测量仪圆弧传感器，其组成包括：接插部件1，所述的接插部件1尾端装有接插器2，所述的接插部件1上装有测杆3，所述的测杆3 右端装有磁片4，所述的磁片4上连有电感线圈5，所述的电感线圈5上连有磁罐6，所述的测杆3左端装有导头7和测针8。该产品用于测量圆弧等曲面的表面粗糙度。

2.最普通的就是塞规，塞规分内外两种，测量内外向两种弧度。测量圆弧度的，可能没那么精准。

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