怎么测量石墨烯膜折叠性能

1.显微镜法

1）用扫描电子显微镜（SEM）扫描隧道显微镜（STM）透射电子显微镜（TEM）来表征生长域和表面形态。

2）用原子力显微镜（AFM）来表征表面形态、厚度、层的均匀性、畴生长。

2.光谱法

1）拉曼光谱——鉴定石墨烯片并获得层数信息

2）红外光谱——评估官能团的存在

3）紫外-可见光谱——帮助评估氧化石墨烯和还原石墨烯的区别

4）X射线衍射（X射线粉末衍射）——用于分析结晶相

5）光电子能谱（X射线光电子能谱）——分析表面化学构成和键合。

6）核磁共振——获取结构信息，如sp 2和sp 3碳信息。

7）动态光散射（动态光散射和光子关联光谱学）——用于尺寸表征或测量流体尺寸和亚微米颗粒。

8）DPI（双偏振干涉测量技术）——帮助表征氧化石墨表面与其他分子的表面相互作用。

3.力学性能测试

1）杨氏模量。

2）泊松比。

3）膨胀试验。

4）表面张力（石墨烯膜的松弛和自紧）

5）石墨烯膜的气体透过率。

4.热性能和热效应分析

1）热导性。

2）热重分析（TGA）和热稳定性。

现在让我们来看一下各种分析工具以及它们是如何来鉴别和表征石墨烯的。

显微镜法

石墨烯的SEM,STM,TEM表征

扫描电子显微镜，用一束高能量的聚焦电子束代替光来形成图像，可与能谱连用。可以获得形貌信息（物体的表面特征）、形态信息（构成物体的粒子的形状和大小）、组成信息（组成物体的元素和化合物以及他们的量）和晶体信息（原子在物体中的排列

原子力显微镜表征石墨烯的什么性质

当然是原子力显微镜AFM，看高度图石墨烯单层不到1 nm。应该说AFM是表征石墨烯材料最方便的手段了。当然，AFM表征的时候应注意区分灰尘、盐类和石墨烯分子。

当然光学显微镜、扫描电镜SEM也可以用来表征石墨烯。还有高分辨率透射电镜HRTEM可以看到石墨烯的蜂窝状原子图像，可以看到氧化石墨烯还原后的缺陷。

1，扫描电镜看的是样品的局部区域，可能你看到的样品区域刚好就没有石墨烯。

2，你的样品为符合才能，可能在复合材料制备过程中，石墨烯的结构已经被破坏，所以看不到。

3，复合材料中的石墨烯含量本身就极少，需要在SEM下找很多区域，也许能看到

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