是的。
扫描电镜(扫描电子显微镜SEM),其电子枪发射出的电子束被磁透镜汇聚成极细的电子“探针”,在样品表面进行扫描,电子束可激发样品表面放出二次电子,二次电子产生的多少与样品表面的形貌有关。二次电子由探测器收集,并在那里被闪烁器转变成光信号,再经光电倍增管和放大器又转变成电压信号来控制荧光屏上的电子束强度。
这样,样品不同部位上产生二次电子或多或少的差异,直接反映在荧光屏相应部位形成或亮或暗的差别,从而得到一幅放大的立体感很强的图像。
也就是说只能形成黑白图像!
由原子大小决定吧,SEM用的是隧穿效应,我做SEM扫描金属表面实验的时候读出来的数据都是电压,钨针尖上还要自己加偏压。金属混合物的微观结构是面心立方点阵结构(代表有铝、金、银、铜)和六方最密堆积结构(代表有镁、铍、锌、镉等)的混合,都是填隙六方结构,所以应该是金属原子浸没在电子海洋中的密堆积结构,由于充分混合后的对称性,原子间距只和整个体系的结合能有关,和是什么原子无关,所以原子位置早就定下来了。然后SEM扫到的距离只和表面原子半径大小的有关(前提光滑表面)。10nm非常小了,一般情况下FE-SEM不会用来观测10nm左右纳米颗粒的微观结构的~还有,SEM是二次电子成像,由于二次电子的产额随原子数的变化不大,所以得到的SEM图像中Contrast不怎么明显。所以我觉得你应该用TEM来表征你做的这个样品,在TEM图像中,Ni的颜色比Al2O3的暗,如果条件允许的话,做HRTEM或者EDX就更能准备表征你样品中的黑色纳米颗粒是Ni了~~~欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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