表面成分太少，SEM的EDS测不出来，那还能用什么设备能测呢？

�挥幸话俚陌伞�pwang526(站内联系TA)用ICP看看，XPS也精度不够的雏烹(站内联系TA)ICP 貌似 也很贵 :rol:dafeng001(站内联系TA)看lz是测什么元素啦，对于轻元素EDS测得也不准啦，如果有时有新的物相就做XRD，如果可以挂下来 做个红外， 当然 这样看你要测的是什么元素 化学分析的方法也是可以的 总之 lz给的信息太少了songjinlong(站内联系TA)表面氟化处理了 想要测O C F Sisongjinlong(站内联系TA)Originally posted by dafeng001 at 2011-03-04 15:42:14:

我想O F Si的含量是微量的吧 我现在想用电子探针测 您看 能行吗 电子探针和EDS差不太多 都是半定量的 实在需要这个数据 还是做个元素分析吧xiaxue_326(站内联系TA)用FTIR，红外测试试试吧，也是表征成分的。

您好，EDS能谱分析面扫描不是随机选区域，而是根据特定的目的和要求，结合分析者的经验和专业知识，选择最合适的区域进行扫描。EDS能谱分析面扫描的目的是为了获取样品的元素成分分布，以及探索样品的结构和组成。因此，在选择扫描区域时，需要考虑样品的特性，以及分析者的经验和专业知识，以便选择最合适的区域进行扫描，以获得最准确的结果。

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