对银纳米粒子进行TEM表征时，为什么要将它滴在碳膜涂层的铜网上？

不滴在有碳膜的一面怎么行呢？铜网的孔径相对于纳米材料是巨大的。况且有没有碳膜很好区分的，说的俗一点，就是有碳膜的看起来像是用铅笔在铜网上涂过一样。反正我做了这么久的TEM，制样时都是滴在有碳膜的一侧。

利用非共价修饰的方法,先在碳纳米管表面包裹上表面活性剂十六烷基三甲基溴化铵(CTAB)和聚丙烯酸钠(PAA),然后原位修饰上铜和银纳米粒子,制备出MWCNT/CTAB/PAA/M(M:Cu或AS)纳米复合材料,最后通过XRD、SEM和TEM等技术对其进行表征.结果表明,利用这种简单的层层白组装方法能够在碳管上均匀地修饰金属纳米粒子,并且这两种金属纳米粒子的尺寸都小于5

nm.

对于零维和一维纳米材料，SEM观察时需要分散。一般使用有机溶剂加分散剂，超声波分散，离心沉淀后用吸管取上清液，滴在干净的硅片或载玻片上，干燥后用导电胶带粘取。

具体沉淀时间或离心机的参数，需要多做几次试验，针对不同的材料特点，选择好的条件。

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。

另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了，基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片，必须保持分散液状态来做电镜扫描。

---