麻烦问一下金相显微镜那个标尺怎么弄？该用什么测量软件？非常感谢

标尺，学名是C1测微尺，总长1mm,分为100小格，每小格0.01mm。你说的怎么弄，应该是定标或是标定。金相方面如果需要使用金相定量分析软件或是几何测量软件时，一定是需要定标的，说直白点就是给软件制定的标准使之分析或是测量得出的数据准确。金相显微镜有不同的物镜，需要使用多少倍物镜分析或测量，就需要给多少倍的物镜定标。

这里你的设备必须具备，金相显微镜，拍照设备（数码相机或CCD），金相定量分析软件或是几何测量软件，C1测微尺。

这里举例：需要物镜10倍，光学放大100倍（目镜也是10倍）的情况下对球墨铸铁进行评级或是直径测量，那么首先需要将C1测微尺在物镜10倍的情况下通过数码相机或是CCD拍照，然后保存到电脑中，然后将做好的球墨铸铁样品也通过10倍物镜观察并拍照保存到电脑中备用。

打开分析或测量软件，从中找到定标或是标定功能，导入之前拍的测微尺图像，使软件中的虚拟格尺跟测微尺图像上的格尺对齐。数一下对齐了测微尺图像上的多少格，然后输入到分析或测量软件中，选择输出单位，如果输出单位不是mm，这里需将单位转算一下，然后再输入。确定，就搞定了，其它倍数的物镜，定标步骤一样，正常情况下买软件后都有说明书的。

然后将拍的球墨铸铁图像导入到软件中，该评级的评级该测量的测量，需要导出报告或定倍打印的都可以完成。

以上，我说的可能笼统了些，细节方面有需要了解的，再追问吧

1、放大率：

与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以，SEM中，透镜与放大率无关。

2、场深：

在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积：

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离：

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象：

次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。

6、表面分析：

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法：

如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，将其他部分遮蔽使重新衍射，则会得到背景干扰少的鲜明图像。

扩展资料：

SEM扫描电镜图的分析方法：

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系，所以将电镜像用光度计扫描，使各点的浓淡数值化，将之进行傅立叶变换，便可求出衍射像〔衍射斑的强度（振幅的2乘）和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换，则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。

参考资料：百度百科-扫描电子显微镜

对了，还有一种是针对液体样品的，快速冷冻法，简单说就是液体样品放在液氮中快速冷冻，通过特殊的装置，转移到过渡舱中，再喷金，再转入观察仓。以上三种制备方法基本就全了。这个还需要你多多练习，基本方法就是这些。

---