电子探针的薄片厚度要求

探针片，国内的标准约60-80um，当然是用于电子探针，电子探针分析时通过镀金或者镀炭达到导电的目的，然后分析；

光薄片，其实在国内指的是用于矿相鉴定的光片，即反光用的，有两种，一种是很厚很厚的，可以压在橡皮泥上放到反光显微镜下去看的；另一种厚度不定，因为主要是用于反光，不破损即可；

岩石薄片，就是用于显微镜鉴定的片子，通过30um，国内的情况是加盖薄片，在这里盖片有好处也有不好处，好处是有盖片，显微镜鉴定的时候很好，很清楚，不好就是盖上去了取不下来，至少不容易取下来，如果你要做电子探针或者SEM的话就没办法了，不盖吧，显微镜鉴定的时候可能会有点干扰；

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.

区别：

SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。

SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。

TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。

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