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SEM抛光我想应该是要清洁一下表面,避免表面含有一些脏东西之类的,如果是要看组织,不仅最后不是抛光,而且做SEM之前还需要腐蚀,SEM的二次电子成像原理就是要求表面凹凸不平,如果抛光了的话就没办法看二次电子像了,只能用背散射看了先用2000目或更小的砂纸将表面打磨平整,不能有明显的缺陷。如果你对表面要求很高,再做下表面抛光就可以了。不知道做SEM想得到什么结果,是看粒子的烧结情况,还是看里面有没有你想要的特定结构。我们做一般用上面大小的砂纸将表面打磨就行了。想准确测定厚度还是很麻烦的,关键就在于制样,关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的,标准名称我不太记得了,改天给你发过来也行(如果需要),大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍,然后把材料固化在树脂中,再做截面,或者抛光,然后再测定,关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题,喷金或者喷碳就可以解决.
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