XRD、 SEM、AFD三者的区别:
1、 XRD(X-ray diffraction)是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2、 SEM(扫描电子显微镜)是一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3、 AFM (原子力显微镜)是一种表面观测仪器,与扫描隧道显微镜相比,能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话,需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次,同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
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先用双面胶,在铝箔上用双面胶沾上许多碎玻璃片,记住编号;然后用去离子水稀释到固含量在0.1%以下(具体未知),然后超声分散(时间未知),然后用滴管将分散液滴到碎玻璃片上。将铝箔放入真空干燥箱中50℃干燥。用一金属样品台(表面是很光、平的),将乳液稀释到肉眼可看到又一点浑浊,用玻璃棒沾些,点到样品台上再喷金即可普通的双面胶一般是不导电的,但会受温度及老化作用的影响。电子器材店有专业的绝缘双面胶,你可以买那个用放心。
用万用表测很简单:
把万用表调到电流档选最大档位,
用万用表笔接触双面胶两头,看指针是否摆动。
摆动说明导电,不动说明绝缘。
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