测量CNM802端输出电压＋5.3V、＋13V都正常，27脚DET-5V没有电压，正常应该为3.6V左右。无意中开启电视，发现背光被点亮，反复开、关机几次均正常，27脚DET-5V电压也有了，很是奇怪，试机一个小时未见异常。第二天准备再试一下，如果没问题就可能是哪里接触不良，焊一焊就好了。开机，背光却又不亮了，连续几次都不见背光灯点亮，怀疑是不是和市电有关系。测量市电为224V，正常；找来调压器，将电压调至AC230V，开机依旧如故；再将电压调至AC235V，开机后背光灯点亮。经仔细分析，觉得背光电路没有问题，问题应出在PFC电路上。
用万用表测量PFC输出电压只有312V，市电低一点时只有300V，正常应为380V，怀疑因PFC电压低导致运放比较器A393F因采样电压过低而保护。由于该机背光功放管直接采用PFC电压供电，所以PFC电压的正常与否对背光电路极为重要。遥控开机后，逆变背光电路（SEM2006）和PFC电路（FAN7530）同时得电，如果此时背光电路工作，PFC电路可能尚未正常工作，会影响整机工作。另外，当PFC电路有故障时，PFC电压过低时会造成功放管负载过重，所以增加了背光使能电路。
1、放大率：
与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。
所以，SEM中，透镜与放大率无关。
2、场深：
在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。
3、作用体积：
电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。
4、工作距离：
工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。
如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。
5、成象：
次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。
6、表面分析：
欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。
表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。
观察方法：
如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。
尤其用光过滤法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，将其他部分遮蔽使重新衍射，则会得到背景干扰少的鲜明图像。
扩展资料：
SEM扫描电镜图的分析方法：
从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。
图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系，所以将电镜像用光度计扫描，使各点的浓淡数值化，将之进行傅立叶变换，便可求出衍射像〔衍射斑的强度（振幅的2乘）和其相位〕。
将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换，则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。
扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。
参考资料：百度百科-扫描电子显微镜
sem2007去保护驱动回路。在不明情景的情况下，不去保护处理，完成维修。许多的故障是由驱动回路，驱动管，驱动变压器或者高压电路等过电流所致保护电路触发。此些情况下，直接去保护处理而故障因素不明的话，过电流出可能会将故障位点继续变得更强，更烈，部分过电流由于缺失保护，会引起燃烧等的，为此，仅个人不采用去保护的方式进行完成维修，去保护的目的应当是临时性的，为了检查到哪里问题，需要点亮电路而临时去保护，维修完后恢复。在确实非不得已，只能以这种手段进行维修的话，个人认为，去保护维修完后应至少连续通电试机数个小时以上，并随时观察与注意恒流板或升压板是否出现冒烟现象，局部背光是否变弱变暗等异样，没有，几乎可以确定是某些元件性能减弱或者反馈取样电路出了问题。欢迎分享，转载请注明来源：夏雨云
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