sem和xps的mapping区别

SEM表面形貌较好，XPS是做表面成分分析的。

sem即时性高，准确流量，快速调整。XPS板具有致密的表层及闭孔结构内层。其导热系数大大低于同厚度的EPS，因此具有较EPS更好的保温隔热性能，由于内层的闭孔结构。因此它具有良好的抗湿性，在潮湿的环境中，仍可保持良好的保温隔热性能。适用于冷库等对保温有特殊要求的建筑，也可用于外墙饰面

区别是一个汉语词汇，拼音：qūbié有区分、辨别的意思。

1. X射线光电子能谱仪（XPS）

2. 扫描电镜测试（SEM测试+EDS）

3.透射电镜测试（TEM）

4. X射线衍射仪（XRD）

5. 物理吸附（BET）

6. 高效液相色谱仪（HLC）

7. 荧光寿命、量子效率

8. 瞬态吸收光谱

9. 热分析DSCTGDMA

10. 元素分析（EA）

11. 等离子体质谱联用仪（ICP-MS）

12. 小角X射线散射仪 (SAXS)

13. X射线荧光（XRF）

14. 热膨胀系数

15. 红外光谱仪

16. 拉曼

17. 单晶测试

18. 电子顺磁（EPR）测试

19. 粒度测定

武汉铄思百检测技术有限公司

可以测。

可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。

SEM的工作原理与使用方法 ：

SEM的工作原理 扫描电镜（SEM）是对样品表面形态进行测试的一种大型仪器。

当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时，电子与元素的原子核及外层电子发生单次或多次弹性与非弹性碰撞，一些电子被反射出样品表面，而其余的电子则渗入样品中，逐渐失去其动能，最后停止运动，并被样品吸收。

在此过程中有99%以上的入射电子能量转变成样品热能，而其余约1%的入射电子能量从样品中激发出各种信号。

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