用SEM照片能进行粒度分析？

粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究，具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析，但需要良好的制样，获得可以接受的结果。

您可以参考：

SEM/EDS自动粒度分析系统：这是扫描电镜配套的EDS分析附件所具备的高级分析功能，这个软件很贵，一般要几万元人民币。

http://coxem2010.blog.163.com/blog/static/16510375720115227572397/

免费资源推荐：图像法粒径分布计算软件

这个是手动进行分析，是国内科研人员业余时间自己开发的简单分析软件，您可以试验一下：

http://coxem2010.blog.163.com/blog/static/16510375720119201448149/

不知道你的纳米分布范围，一般激光粒度仪达不到几个纳米的地步，几十个纳米以上还是可以用激光粒度仪侧的。再小的尺度可以采用动态光散射的方法测定，这是国际上比较通用的方法。 我一般不建议采用做SEM或TEM统计的方法来得到粒径分布，因为粒径分布是大量粒子的统计结果，就做几张照片统计太片面，不太准，而且一般比激光粒度仪测得的数据偏小。 另外小角度XRD也可以测定粒径的分布。

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