膜层厚度非均匀性如何计算

薄膜测厚仪。

方法如下：1，打开测厚仪电源开关，设置试验模式及统计数量等参数信息。2，通过零点或者标准量块自校一下设备，截取一定尺寸的试样，将试样平铺在测试面上。3，点击试验选项，通过控制系统调节测量头降落于试样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。

对涂层厚度的检测将有利于有效控制薄膜各层的厚度均匀性，但对于多层薄膜若想精确测量每一涂层的厚度，在相应的厚度检测设备上就需要有非常大的投资，并随着薄膜层数的增长而加大，给企业带来较大的经济负担。比较经济的方式是对部分价格昂贵的涂层材料进行涂层厚度的检测，同时加强对薄膜整体厚度的测试以达到有效控制其他各层材料厚度均匀性的作用。

对于薄膜厚度测量，深圳大成精密一直持续加大研发投入和不断致力于技术创新。大成精密光学干涉测厚仪专为透明薄膜开发的光学干涉测厚仪能够良好地实现单层或多层透明薄膜的厚度测量。精度极其高，应用甚广，尤其适合厚度要求达到纳米级的透明多层物体的厚度测量。

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