1、你给的文件中,上面那幅图中一堆亮的点是由于高度过大或者扫描参数没有调到最佳值,成像有点失真。对于高度的测量应该还有一个Z方向的标尺,通过AFM的相关软件可以直接分析。
2、下面的两张图中就给出了那条亮线对应的高度,及相同颜色两点的高度差。
su8000 仪器型号, 15kv 加速电压, 8.3mm 工作距离,30k,放大倍数,se二次电子检测器,ul应该是检测器位置.
拓展资料:
不同的厂商在设备的标尺上数值设置不同,美国设备一般倾向于微米级别的标尺而日本和捷克则是微米纳米二者兼有,纳米也是比较大的数值而德国蔡司的设备更倾向于数值小的纳米级别标尺数值,但是丝毫没有影响对样品的放大倍数。因此,可以得出一个结论,标尺数值大小跟放大倍数没有必然关系,具体数值大小和不同的厂商设置有关
用图片上标尺的实际尺寸除以50μm 就等于放大倍数。图片如果是数字图像,标尺长度会随着数字图片的放大和缩小而改变,那么实际放大倍数就应该随时修正。另外数字放大缩小一般不改变所拍摄物体的更多表面细节 。
扫描电镜的放大率与普通光学显微镜不同,在SEM中,是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。
扩展资料:
其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品,
通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息,
对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调并且景深大,
视野大, 成像立体效果好。
此外, 扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合, 可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。
欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
评论列表(0条)