如何用photoshop组合sem图

如何用photoshop组合sem图,第1张

一、文件--新建或Ctrl+N新建一个文件,大点儿没关系,做完了可以裁的

二、文件--打开,或Ctrl+O打开想合并的图片想要合并几张就全打开

三、将一张图片作为工作文件,选移动工具(快捷键V)直接将它拖动到你新建的那个空白文件中。Ctrl+T按住Shift调整角上的句柄将其缩小(这样不会走形),并放好位置,按Enter确定

四、将其它的图片按此法做好

五、Ctrl+Shift+E合并所有图层

六、 Ctrl+S保存,选好格式,取好名字点"保存"

七、完工。

1、放大率:

与普通光学显微镜不同,在SEM中,是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以,SEM中,透镜与放大率无关。

2、场深:

在SEM中,位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深,通常为几纳米厚,所以,SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积:

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用,它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用,所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离:

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离,可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离,则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象:

次级电子和背散射电子可以用于成象,但后者不如前者,所以通常使用次级电子。

6、表面分析:

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关,所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层(参见作用体积),所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用,所用到的探测器有两种:能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高,后者非常精确,可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法:

如果图像是规则的(具螺旋对称的活体高分子物质或结晶),则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法,即只留衍射像上有周期性的衍射斑,将其他部分遮蔽使重新衍射,则会得到背景干扰少的鲜明图像。

扩展资料:

SEM扫描电镜图的分析方法:

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中,有时因为背景干扰严重,只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系,所以将电镜像用光度计扫描,使各点的浓淡数值化,将之进行傅立叶变换,便可求出衍射像〔衍射斑的强度(振幅的2乘)和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换,则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。

参考资料:百度百科-扫描电子显微镜

1、打开ps软件后,双击工作区域即可在文件夹内找到4张图片,将他们全部打开。按快捷键ctrl+alt+i查看每一张图片的大小,将他们一一记录下来。

2、新建文件,若现在要新建这个图像文件,就需要先搞清楚,要制作的这个图片尺寸是多少。

3、根据上面的描述,确定ABCD四个位置的图片及尺寸,于是需要预先对A、B位置的两张图片做处理。

4、A位置图片尺寸需要调整为200*440,首先使用裁剪工具,将图片裁剪成200*220,然后点击菜单栏中的“图像”,找到画布大小后修改画布大小为200*440,一定要注意这里的宽度是不变的。

5、B位置图片尺寸需要调整为684*220px,为了保证图片的等比例放大或是缩小,使用截图工具,设置好固定的截取尺寸后,他会自动成比例获得图片。

6、将上面的准备工作做完之后,就可以进行最后一步操作了,即组合图片。记住ABCD四个位置都放那些图片,然后按快捷键ctrl+a全选图片后,点击工具箱中的移动工具至选区内,发现小手变成了剪刀。然后拖动每一张图片至合适的位置上即可。

7、完成效果图。


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