SEM和TEM区别是什么？

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.

区别：

SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。

SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。

TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。

显微镜测量纤维平均直径

工具/材料

显微镜：800倍以上，分辨率小于0.5μm

载玻片与蒸馏水

准备样品

从送检的样品中，抽取1g左右的纤维，通过缩分使每一份小样成为大小一致的纤维，从中截取1mm长度，放到载玻片上，加入适量的蒸馏水，用针将其均匀分散，需要准备多块样品！

将准备好的载玻片放到显微镜下，按照显微镜的使用方法，移动载玻片使检验品至显微镜中央。

调节焦距至纤维清晰，并使其一个边缘与目镜测量尺的刻度重合，读出另一边的边缘值。

在同一块载玻片上，按照步骤2反复测量多跟纤维，重叠或不清晰的可忽略不计，并且避免重复测量。

多块载玻片共计测量100跟纤维，做好数据记录

实验结束，整理仪器，清理载玻片

计算结果，X为测量总刻度，平均直径数即为X/100，单位为μm

特别提示

使用显微镜，必须按照显微镜使用标准去操作。

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