如何制备SEM样品的横断面

如何制备SEM样品的横断面,第1张

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理,因为氧化铝模板是脆性的,所以在掰弯的时候肯定有地方裂开,裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面,我用过这个方法,还算是比较有效的方法

这问题不是太懂,但是用剪刀剪断是不可能的,因为剪刀剪断的横截面是非常不平的(特别是在原子显微镜下看,那只会是一块有一块的凹凸),淬断是估计利用分子来摩擦切断的,这个可以做到在原子显微镜下看是平整的

针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答:

献峰科技指出:在Si片上镀一层非晶碳膜(厚度为几十个nm,导电性能较差),用金刚石刀直接切割出试样,然后进行SEM观察,希望得到薄膜的厚度。

第一次去做时表面没有喷金,看到的断面效果也很差,很难清楚的看到薄膜与基体的分界面。

希 望 采 纳 不 足 可 追 问


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