在sem实验中为什么要特别注意样品导电问题

在sem实验中为什么要特别注意样品导电问题,第1张

如果高分子样品导电性很差,在做sem时表面电荷累积,使得画面发白,分辨率下降。这时候可以在表面蒸镀上一层很薄的金或者碳,提高材料的导电性。当然,碳和金层必须非常薄,不影响材料原有性质。

我自己碰到的图像漂移有:

1。样品固定不牢固,或者样品太。因此样品大小要合适,并用导电胶固定牢固。

2。刚放入样品,开始观察时图像漂移较大,可等半小时左右在开始,图像漂移消除或减弱。

3。样品导电性差,荷电现象导致图像漂移不清楚,可降低电压或者样品表面喷金(碳)处理。

4。扫描电镜对中不好导致聚焦过程中图像移动。

5。高倍观察时,环境振动也会导致图像漂移或者浮动。

朋友,这是三类原理不同的显微镜

金相显微镜是属于光学显微镜,主要用于观察材料表面的金相组织,分辨率受限于半波长,只有0.2um,无法得到更高分辨率的图像。

扫描电镜即SEM,属于第二代显微镜,是采用电子轰击样品表面进行成像,得到样品表面二维的形貌像,分辨率可以达到nm级别;只是它要求样品必须为导电样品,所以对于非导电样品需要进行前期的制样处理:喷金、银或碳等。

你说的描隧道电镜应该是扫描隧道显微镜,它和原子力显微镜统称为扫描探针显微镜,属于第三类显微镜,原理均为一根原子线度的极细的针尖作用在样品表面,通过检测针尖与样品表面之间的作用力来得到样品表面的形貌像,所不同的是扫描隧道显微镜只能检测导电样品,故应用范围受限(但分辨率最高:横向0.1nm,纵向0.01nm),而原子力显微镜则对样品无此要求,所以为最常用的一类扫描探针显微镜,分辨率为:横向:0.2nm,纵向:0.1nm;与电镜不同,这一类显微镜得到的是三维的图像。除此之外,扫描探针显微镜是一个大的家族,还包括:磁力显微镜、静电力显微镜、声学显微镜等二十多种。

希望可以帮到你。


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