以为高分子的导电性能很差,且容易被电压击穿,所以要选择低电压和快速照相模式的组合。
而金属和半导体,导电性能都还好,可以根据调试的效果自行选择电压来操作。
并没有硬性的规定金属,半导体,高分子具体要多少电压。这些都是需要根据具体的图像质量来不断调整的
SEM 固体材料样品制备方便,只要样品尺寸适合,就可以直接放到仪器中去观察。样品直径和厚度一般从几毫米至几厘米,视样品的性质和电镜的样品室空间而定。对于绝缘体或导电性差的材料来说,则需要预先在分析表面上蒸镀一层厚度约10~20 nm的导电层。 否则,在电子束照射到该样品上时,会形成电子堆积,阻挡入射电子束进入和样品内电子射出样品表面。导电层一般是二次电子发射系数比较高的金、银、碳和铝等真空蒸镀层。 在某些情况下扫描电镜也可采用复型样品。SEM样品制备大致步骤: 1. 从大的样品上确定取样部位; 2. 根据需要,确定采用切割还是自由断裂得到表界面; 3. 清洗; 4. 包埋打磨、刻蚀、喷金处理sem观察金属熔覆电时出现了氖元素是正常的,在用 SEM观察时发现,熔覆层中出现黑白两层交替分层现象。通过成分分析表明,黑层组织是富这种双层组织形成过程与激光熔覆时熔池中液态金属的流动密切相关,文献 13指。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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