用SEM照片能进行粒度分析？

有两种方法可以知道：

1。 拍扫描电镜照片或透射电镜照片，

用上边的比例尺来计算。然后通过Photoshop软件

进行二值化处理，通过分析会得到很好的结果。

2. 用实验仪器

分析粒度的仪器多的很，我们通常用激光粒度仪。

金相图片分析如下：

1、确定照片的放大率。

先测量微观照片的尺寸，长度或宽度选择其一，然后测量出试样的实际长度或者宽度。

放大率=图片距离/实际距离。

2、找出晶粒度级别数。

计算出放大率之后就可以确定晶粒度级别数。首先要计算出试样中的晶粒数。

晶粒数=完整的晶粒数+0.5倍的部分晶粒。完整晶粒的晶界都是可观察到的。

其次计算出实际面积，实际面积=图片长/放大率x宽/放大率。

根据ASTM标准中的计算公式：N=2（n-1）其中N是指放大100倍下每平方英寸的晶粒数，n是指晶粒级别数。进行单位换算之后可得到N的值。最后可计算出晶粒级别数n。

3、计算出平均晶粒直径。

平均晶粒直径=试样的实际长度/截取部分的晶粒数。

实际长度=截线长度/放大率。

金相图片分析方法如下：

1、比较法：比较法不需计算晶粒、截距。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。

2、面积法：面积法是计算已知面积内晶粒个数，利用单位面积晶粒数来确定晶粒度级别数。该方法的精确度中所计算晶粒度的函数，通过合理计数可实现±0.25级的精确度。

面积法的测定结果是无偏差的，重现性小于±0. 5级。面积法的晶粒度关键在于晶粒界面明显划分晶粒的计数。

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