如何减轻高分子样品在做sem时表面电荷累积问题

如何减轻高分子样品在做sem时表面电荷累积问题,第1张

如果高分子样品导电性很差,在做sem时表面电荷累积,使得画面发白,分辨率下降。这时候可以在表面蒸镀上一层很薄的金或者碳,提高材料的导电性。当然,碳和金层必须非常薄,不影响材料原有性质。

1、透射电子显微镜电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。

透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量,必须制备更薄的超薄切片,通常为50~100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。

常用的方法有:超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品,通常是挂预处理过的铜网上进行观察。

2、扫描电镜的特点:有较高的放大倍数,2-20万倍之间连续可调;有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;试样制备简单。

生物:种子、花粉、细菌;

医学:血球、病毒;

动物:大肠、绒毛、细胞、纤维;

材料:陶瓷、高分子、粉末、金属、金属夹杂物、环氧树脂;

化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥(杆菌)、机械、电机及导电性样品,如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察)电子材料等。

扩展资料

透射电镜的总体工作原理是:由电子枪发射出来的电子束,在真空通道中沿着镜体光轴穿越聚光镜,通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明亮而又均匀的光斑,照射在样品室内的样品上;透过样品后的电子束携带有样品内部的结构信息,样品内致密处透过的电子量少,稀疏处透过的电子量多;

经过物镜的会聚调焦和初级放大后,电子束进入下级的中间透镜和第1、第2投影镜进行综合放大成像,最终被放大了的电子影像投射在观察室内的荧光屏板上;荧光屏将电子影像转化为可见光影像以供使用者观察。

扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接收、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。

参考资料来源:百度百科-扫描电子显微镜

参考资料来源:百度百科-透射电子显微镜

VC作为一种常用的分析手段,在die level的失效分析中用的很多,比如在做去层分析到CT层次时,通过SEM图像的明暗来判断CT以下的结构(比如栅氧)是否有异常,通常会在Low KV(~0.7KV)和High KV(>5KV)下来检查。

在解释VC之前,先简单了解一下SEM成像的原理:

电子束经过加速,打到样品表面,会产生很多种信号,比如X射线,俄歇电子,二次电子,背散射电子等等,其中由于二次电子的成像分辨率比较高而广泛用于SEM成像。当入射电子打到样品表面时,会发生非弹性碰撞,一些核外的电子获得能量跑到样品表面,这些电子叫做二次电子, SEM机台内部的二次电子的探头检测这些二次电子从而成像。

下面进入正题:

我们通常用的基本上都是PVC(Passive voltage contrast),也就是说只需要借助SEM拍照就能实现,此外还有AVC(Active voltage contrast),这就需要SEM内的探针对IC加上偏置以后再检查VC图像。这次我们重点讨论PVC,以下简称VC。

既然SEM图像的明暗是由被探测器接收到二次电子的量来决定的,那二次电子的产生对于我们来说至关重要。二次电子的产率可以通过下面这张图来解释:

σ=Ns/Ne

Ns:发射出二次电子数目; Ne:入射电子数目;其中E1 大约在0.5KV,E2 大约在2KV。

1. 当发射二次电子数目Ns >入射二次电子数目Ne,对应上图绿色区域,此时发生的是positive charge由于能量守恒,此时会在样品表面累积正电荷;(对应Low KV下的VC。)

2. 当发射二次电子数目Ns <入射二次电子数目Ne,对应上图紫色区域,此时发生的是negative charge由于能量守恒,此时会在样品表面累积负电荷;(对应High KV下的VC。)

3. 当两者数目相等,此时没有电荷累积。

Positive VC 的情况:

1.对于floating的位置,由于累积了正电荷,在电场作用下,二次电子向下运动,从而很难被二次电子的探头探测到,此时成像就是暗色;

2.对于grounded的位置,由于没有电荷累积,二次电子被正常探测到,此时成像为亮色。

而在实际应用中,不仅仅存在floating/grounded 的情况,还有别的情况,比如通过CT连出来的N+ in P well, P+ in N well. 其实道理一样,如下:

3. N+ in P well:PN结对于正电荷反偏,这里的CT处会累积正电荷,并且成像偏暗;

4. P+ in N well:PN结对于正电荷正偏,这里的CT处无法累积大量的正电荷,并且成像较亮;

下面这张VC图片和LAYOUT一一对应的情况有助于理解:

Negative VC 的情况:

1. 对floating 的位置,负电荷累积会增加二次电子的接受率,因此显示为亮;

2. 对于grounded的位置,没有负电荷累积,二次电子接受率没有增加,显示为暗;

3. 对于N+ in P well,PN结对负电荷为正偏,不能累积大量负电荷,显示为较暗;

4. 对于P+ in N well,PN结对负电荷为反偏,负电荷累积,显示为较亮。


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