pS所有的类似的面积计算之类的,都是通过直方图实现的,用PS打开那张图,然后视图,窗口,直方图,点右上角选择扩展视图,如图中所示
在这里下面就有一个像素,如图上总像素就是129600个,然后你用选择,色彩范围,在图中取样,然后控制好容差,使得仅选中你需要的部分,确定,之后上面直方图下面的像素就是你现在选中的,二者计算就可以得到你要的比率了。
代价太高,需要3D技术,也就是层层计算。 土壤的某一个截面的孔隙率是非常好计算的,但体积分数就很难,只能切片,照相,然后3D拟合,最后计算出精确地孔隙率。如果对于微观结构不必要了解,用其他方法更简单使用。
这个问题,是大家都很关注的。因为NF膜表面的话SEM是得不到数据的,AFM也不行的。。SEM就算放大30W倍也不行个。。在此,给大家介绍一个相较可行的方法:
膜的孔径测量一般用汞压法可以测量。首先要说明白,膜的表面孔径是一个平均孔径,它和膜的孔隙率都是表征膜的重要数据。但是一般要说膜的截留性能,尤其是超滤或纳滤膜,一般使用截留分子量来表示。因为到了微米或纳米级别的膜孔,很难用直接观察到孔径和孔隙率,当然,如果用氮气吸附作空隙率和平均孔径的话也是有人这么做过,但是由于膜的支撑层的孔径更大,所以数据是没有什么意义的。
可以间接测量,比如某种分子的脱除率,或者测截留分子量
比如需要测定100-200nm孔径的中空膜,可以选择300nm.100nm的微粒溶液,进行测定其阻止率,用来说明此孔径的具体分布。。。相对比较好用。而且,在日本的很多公司也都认可,该方法测定的数据。
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