扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑

大约要用十样样品。

原子力显微镜研究对象可以是有机固体、聚合物以及生物大分子等，样品的载体选择范围很大，包括云母片、玻璃片、石墨、抛光硅片、二氧化硅和某些生物膜等，其中zui常用的是新剥离的云母片，主要原因是其非常平整且容易处理。而抛光硅片要用浓硫酸与30%双氧水的7∶3 混合液在90 ℃下煮1h。利用电性能测试时需要导电性能良好的载体，如石墨或镀有金属的基片。

测量时间因样品类型和测试要求而不同。

电镜测量过程包括：制样→放样→确认位置→拍照、测试等。

1、对于简单样品，可能不需要特别制样，直接取样放样（要抽真空）就可以，该过程可能需要几分钟到十几分钟；对于负责样品，可能需要断开、抛光腐蚀或者其他处理，时间就不能确定了，有的可能要半天，抽真空放样可能半个小时；

2、如果单纯拍几张照片，没有特别要求，几分钟就可以确认位置和拍完照片，如果在样品上找某些特定的特征拍照时间就可能长很多（这也与拍照人的操作熟练程度有关），如果还要测能谱或者其他的内容，时间可能会更延长。

如果楼主不能判断自己样品符合以上哪些内容，不能确认时间，可以详细说下你的样品和测试内容，才能准确知道测试时间

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