sem扫描电镜制样基板如何选择

sem扫描电镜购买因素一：选择正规厂家

现在扫描电镜的使用范围很大，需求也很高，所以现在到处都有很多这样的制造商，大大小小的，使用者不能作出更好的选择，如果选择不合适的sem扫描电镜，就会影响使用时的工作质量。因此，一定要选择正规的厂家，经销商或商店也可以，用户应该看看凭证，完整的凭证可以让用户更放心。

扫描电镜购买因素二：根据实际需求选择

sem 扫描电镜随着需求的增加，其品牌及种类也增加了，市场上的产品种类参差不齐。购买者在选择时需要根据自己的实际需求来选择自己想要的扫描电镜，不能盲目的选择一些便宜的sem扫描电镜，合适自己的才是好的选择。

扫描电镜购买因素三：了解sem扫描电镜市场

买家在采购扫描电镜时一定要先了解这种设备的市场，因为只有了解市场，才能更顺畅地选择sem扫描电镜，用户可以比较更多的不同扫描电镜，在比较过程中也会发现优缺点。这使得选择更加容易。

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.

区别：

SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。

SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。

TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。

1.透射电子显微镜1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜（transmissionelectronmicroscope，TEM），电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。透射电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由电子照明系统、电磁透镜成像系统、真空系统、记录系统、电源系统等5部分构成。2.扫描电子显微镜扫描电子显微镜（scanningelectronmicroscope，SEM）于20世纪60年代问世，用来观察标本的表面结构。其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度，显示出与电子束同步的扫描图像。图像为立体形象，反映了标本的表面结构。为了使标本表面发射出次级电子，标本在固定、脱水后，要喷涂上一层重金属微粒，重金属在电子束的轰击下发出次级电子信号。目前扫描电镜的分辨力为6~10nm，人眼能够区别荧光屏上两个相距0.2mm的光点，则扫描电镜的最大有效放大倍率为0.2mm/10nm=20000X。‍

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