感觉这样的提问没有什么意义
建议看看书,查查资料
透射电子显微镜,可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒尺寸完全是两回事。用马尔文激光粒度仪可以测的纳米颗粒的颗粒尺寸,以及分布范围。楼主说的恐怕是要用SEM观察到颗粒后,统计平均颗粒粒径吧。那个软件叫image-pro plus 。建议使用5.1版。
有问题再留言给我。相信可以帮到你
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