有没有人懂SEM扫描电镜的,辐射大吗

有没有人懂SEM扫描电镜的,辐射大吗,第1张

根据个人做样的感觉,如果你的催化剂自身没有结构特点或者晶体特征的话,你研磨与否关系并不大。比如氧化铝载体的催化剂,你研磨的细点看到的颗粒会小点,但是那些颗粒的尺寸对于氧化铝颗粒的尺寸而言仍然是大的,从照片上能看出来。如果你是采用特殊方法制备的催化剂,如水热法等等,不研磨反而能看出来更好的初始结构。

如果是即将开始学习仪器操作的管理人员,建议先系统学习理论知识,再找专业的仪器工程师培训。如果是学生,要使用电镜,从安全角度考虑,1、2、3几项通常是值机人员完成的。我可以简单的向你介绍一下:1、主要是电源,只要能正常开机,一般无问题;2、加高压前一般要达到额定真空,否则气体电离度大、损伤电子枪,但是电镜软件一般都已经设置好,不到工作真空,根本加不上去高压,所以只要能够加高压,也无其他特别的问题;做完电镜关闭高压,等30秒以上,待灯丝冷却后再放气为宜,主要也是为了保护电子枪;3、样品台有它的额定移动距离,包括平面方向和上下方向,平面方向移动到极限时会有报警提示,看到提示往回移动即可。高度方向也如此,但是要注意向上移动时,要缓慢,要防止坚硬的试样撞击上方的探测器和极靴,损坏设备;4,电子束与试样作用,可激发出多种信号,如二次电子信号(用于形貌观察),背散射电子信号(用于区分微区成分)、俄歇电子信号(用于表面元素分析)、特征X射线(用于内部元素分析)、阴极荧光(用于发光材料研究),这些信号已经被有效的加以利用,这是一门独立的学科,若需要详细了解,你需要系统地学习一下。

FIB带有SEM功能;FIB另外的功能就是微纳加工。

SEM是电子束成像原理.

FIB中带有电子束成像,也可以离子束成像(一般不用,对样品表面形貌损伤太大).

如果您只观察形貌的话,用SEM即可,FIB的电子束成像方面和SEM都一模一样.


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