sem形貌标尺要求

sem形貌标尺要求,第1张

在做扫描电镜(SEM)测试时,大部分同学已经了解了SEM测试样品的相关要求,但是仍然有一部分同学不太清楚,今天铄思百检测小编整理了关于“SEM测试样品要求”希望能帮到大家!

SEM测试样品要求如下:

1.粉末、液体、薄膜、块体均可。粉末10mg,块体样品直径≤1cm,厚度<1cm,;薄膜尺寸小于1*1*0.5cm;

2.混凝土,珊瑚沙,气凝胶,水凝胶等需要抽真空时间非常长的样品尺寸请尽可能直径≤5mm,厚度≤5mm

3. 需要脆断的样品,尺寸需要≥2*2cm,厚度<0.5cm,较厚的样品建议尺寸准备大些;

要求样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击。

SEM测试制样流程:

1、块体:直接用导电胶粘在样品台上测试,若需拍块体/薄膜截面,需明确截面制备方法,一般可以提供剪刀裁剪和液氮脆断两种方式;

2、液体:用移液枪取样品超声后的悬浊液,滴一滴于硅片或锡纸上,自然风干/红外灯烘干,烘干后将硅片或锡纸用导电胶粘在样品台上测试;

3、粉末:(1)直接用导电胶粘在样品台上测试;(2)乙醇分散制样:取少量样品于离心管中,加入 一定量无水乙醇(或水),室温超声 5-10min,随后采用 2 中液体的制样方式制样测试。

SEM测试样品要求注意事项:

1、样品含水,湿润是不能做SEM的;

2、易分解样品需明确分解条件(如温度等),若样品极易分解可能不能安排测试,因为分解后产生物质可能对测试仪器造成影响;

3、水凝胶等易吸潮样品寄样前请先确认样品暴露 4-5h 内是否会出现明显的吸潮现象,测试过程中样品吸潮会影响拍摄的同时也会对仪器造成损伤;

4、导电性不好(如半导体金属氧化物、生物样品及塑料、陶瓷等)或强磁样品建议选择喷金,不喷金可能会影响拍摄效果。

铄思百检测可做的SEM测试项目有:

表面形貌观察、EDS能谱点扫、EDS能谱线扫、EDS能谱面扫(mapping);可镀金,非磁、弱磁、强磁样品,生物样品均可拍摄。

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科研设备

1、单晶结构:结晶体内部的微粒在三维空间呈有规律

地、周期性地排列,或者说晶体的整体在三维方向上由同一

空间格子构成,整个晶体中质点在空间的排列为长程有序。

2.多晶结构

多晶结构薄膜是由若干尺寸大小不等的晶粒所组成。

晶粒尺寸一般在10-100nm,亦称为微晶薄膜。

在薄膜形成过程中生成的小岛就具有晶体的特征(原子有规

则的排列)。由众多小岛聚结形成薄膜就是多晶薄膜。真空

蒸发与溅射法制成的薄膜多属于这种结构。

3、非晶结构(无定形结构或玻璃态结构)

它是一种近程有序结构。就是2~3个原子距离内原子排列是

有序的,大于这个距离排列是杂乱无规则的;

无定形结构薄膜在环境温度下是稳定的;

它或是具有不规则的网络结构(玻璃态,或是具有随机密堆

积的结构。前者主要出现在氧化物薄膜、元素半导体薄膜和

硫化物薄膜之中,后者主要出现合金薄膜之中)。

不同很正常,因为可能你的样品不是均一的,导致差异。这个SEM测试的是particle不是grain size!谢乐公式可以用,因为不超过几百纳米。你不懂得太多,建议上小木虫多多充电!


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