XRD实验样品如何制作?

XRD实验样品如何制作?,第1张

XRD衍射试样可以是金属、非金属的块体、片体或者粉末。 对于块状、板状、圆柱状样品,必须将其磨成一个平面,面积不能小于10*10mm。如果面积太小可以用几块粘贴在一起。 如果是片状、圆柱状样品可能会存在严重的择优取向,衍射强度异常,给定性定量分析带来麻烦。因此测试时应该合理选择响应的方向平面。

对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求样品不能简单粗磨,要求制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,消除表面应变层。 对于薄膜样品,需要特别注意薄膜的厚度。由于XRD分析中X射线的穿透能力较强,所以适合比较厚的薄膜样品的分析,X射线测量的膜厚度约20个纳米。

XRD的测试原理,是Bragg方程,即nλ=2*d*sinθ,其中λ为入射线波长,d为晶面间距,θ为衍射角。

换言之,XRD对于晶体结构的测试才是有效的。因为晶体都会存在其特有的结晶学特征,也就是空间点阵,14种Bravais格子代表了其晶格类型,晶面参数又限定了其节点间的相对数量关系。

于是,参考Bragg方程,让X射线通过晶体,只要满足Bragg衍射条件,便能提供晶体内原子排布的信息。所以,不管是采用德拜照相法、衍射仪法等,都会在θ角观测到衍射。

当然,也可以说XRD的基础是Laue衍射条件,但其实它和Bragg衍射条件本质是一致的,只是表达不同。

用途以及制样

MTEST系列原位测试仪简介及介绍:原位测试(微观力学测试+可视化监测):在纳米尺度下对试件材料进行力学性能测试。

可兼容集成扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、Raman光谱仪、原子力显微镜(AFM)、图像控制器(CCD)。

金相显微镜等成像设备对材料发生的微观变形损伤进行全程动态监测的一种力学测试技术,深入的揭示了各类材料及其制品的微观。

该课题研究项目中所建立的改型钛白粉的表征方法主要包括X射线衍射技术(XRD)(XRD)、扫描电子显微分析(SEM)、电子能谱(EDS)、红外光谱(FTIR)四种测试手段。

并对每种测试手段在不同改性技术上的表征应用进行了分析,对工厂和企业在对改型钛白粉的鉴别上具有较强的理论指导和实用意义,已在江苏部分钛白粉生产企业中进行了推广应用。


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