sem看二氧化硅薄膜看不到怎么办

要是放大倍数要求不大的话，建议采用环境扫描电镜，那个在20000倍以下，成像效果挺好的。我的是喷金以后，用场发射电镜，效果也挺好的啊

你是不是用手不小心抹掉了，二氧化硅薄膜很脆弱的

要确定是否镀上一层sio2，首先要确定是否有sio2，可以通过X射线衍射仪（XRD）或者扫描电子显微镜（SEM）来检测。XRD可以检测出材料的晶体结构，以及晶体中各种元素的含量，可以确定是否有sio2。SEM可以检测出表面的结构，以及表面的厚度，可以确定sio2的厚度是否达到200字以上。另外，还可以通过原子力显微镜（AFM）来检测表面的结构，以及表面的厚度，以确定是否镀上一层sio2。总之，要确定是否镀上一层sio2，可以通过XRD、SEM和AFM等技术来检测，以确定是否有sio2，以及sio2的厚度是否达到200字以上。

SiO2是原子晶体，是玻璃的主要成分.二氧化硅不能与水直接化合成为酸，能跟碱性氧化物或者强碱溶液或熔融状态下反应，常与NaOH生成硅酸钠。SiO2+NaOH=Na2SiO3+H2O

SiO2化学性质较为稳定。SiO2还能与HF(氢氟酸）反应SiO2+4HF=SiF4+2H2O

Si3N4及活性炭黑为原料，按照两者质量比为31制成试样。在埋炭条件下，将试样分别在1480℃、1500℃、1550℃和1600℃保温3h热处理。利用SEM、EDS及XRD等检测方法，结合热力学分析，研究了高温状态下β?Si3N4在含碳耐火材料中的稳定性以及作为过渡相向碳化硅的转化。结果表明：在该试验条件下，β?Si3N4在含碳材料中将作为过渡相向SiC转化，明显的转化温度＞1500℃，1600℃仍存在较多未转化的氮化硅；氮化硅颗粒与炭黑的反应主要从接触面开始，然后向内逐步推进；β?Si3N4的粒度对其转化率影响较大。

SiO2当达到1873K时熔化也就是1599.85℃

Si3N4当达到1000℃时熔化。

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