如果A样品和B样品是两个单独的实验,不用做横向对比,那么用不同的制样方法没有什么问题.
如果两个样品在合成制备过程中用了不用的方法或者条件,要用SEM做横向比对,制备的结果.那么,最好用同样的制样方法.否则,即使你在SEM下看到了明显不同的结果,你也难以判断是由于SEM制样方法不同造成的,还是,由于合成制备方法不同造成的影响.
如果超声是你样品合成制备过程的一部分,因而,有必要比较超声前和超声后样品的区别.那么,对于两个平行样品,一个样品经过超声处理,一个样品直接干燥,是很合理的实验安排.可以探讨超声过程(工艺)对最终结果的影响.
总之,对于SEM仪器或者这个表征手段来说,超声或者不超声,做出来的样品,是可以放到一起观察的.问题的关键在于你想知道什么.
SEM,全称为扫描电子显微镜,又称扫描电镜,英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM,全称为透射电子显微镜,又称透射电镜,英文名Transmission Electron Microscope.区别:
SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度,也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。
SEM样品要求不算严苛,而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下,一般做成直径3mm的片,然后去做离子减薄,或双喷(或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求)。
TEM可以标定晶格常数,从而确定物相结构;SEM主要可以标定某一处的元素含量,但无法准确测定结构。
SEM的样品可以是大的块状,较小的话就镶样,也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片,而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔,也就是说有薄区,如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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