关于如何测定膜孔径的问题

这个问题，是大家都很关注的。因为NF膜表面的话SEM是得不到数据的，AFM也不行的。。SEM就算放大30W倍也不行个。。

在此，给大家介绍一个相较可行的方法：

膜的孔径测量一般用汞压法可以测量。首先要说明白，膜的表面孔径是一个平均孔径，它和膜的孔隙率都是表征膜的重要数据。但是一般要说膜的截留性能，尤其是超滤或纳滤膜，一般使用截留分子量来表示。因为到了微米或纳米级别的膜孔，很难用直接观察到孔径和孔隙率，当然，如果用氮气吸附作空隙率和平均孔径的话也是有人这么做过，但是由于膜的支撑层的孔径更大，所以数据是没有什么意义的。

可以间接测量，比如某种分子的脱除率，或者测截留分子量

比如需要测定100-200nm孔径的中空膜，可以选择300nm.100nm的微粒溶液，进行测定其阻止率，用来说明此孔径的具体分布。。。相对比较好用。而且，在日本的很多公司也都认可，该方法测定的数据。

用图片上标尺的实际尺寸除以50μm 就等于放大倍数。图片如果是数字图像，标尺长度会随着数字图片的放大和缩小而改变，那么实际放大倍数就应该随时修正。另外数字放大缩小一般不改变所拍摄物体的更多表面细节 。

扫描电镜的放大率与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

扩展资料：

其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品,

通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息,

对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。

新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调并且景深大,

视野大, 成像立体效果好。

此外, 扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合, 可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。

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