如何制备SEM样品的横断面

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法

对试样的要求

试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去磁，以免观察时电子束受磁场影响．

2．块状样品

对于导电样品，除了大小要适合仪器样品座尺寸外，基本不需进行其他制备，用导电胶把样品粘在样品座上，即可放在扫描电镜下观察．对于非导电或导电性差的样品，要进行镀膜处理，在材料表面镀一层导电膜，以避免在电子束照射下产生电荷积累，影响图象质量，并可以防止样品的热损伤．

3．粉末样品

需黏结在样品座上，黏结方法是可以在样品座上先贴一层导电胶或火棉胶溶液，将试样撒在上面，待试样被粘牢后用吸耳球将表面未被粘住的样品吹去．也可将样品制备成悬浮液滴在样品台上，待溶液挥发粉末附在样品座上．样品粘在样品座上，需再镀层导电膜，然后才能放在扫描电镜下观察．

[search]扫描电镜样品植被方法[/search]

仅供参考（详细访问：网页链接）

透射不是用来看面 的MCWANDE(站内联系TA)TEM应该是可以做的. 只不过是制样比较麻烦. 一般应该是要切片和打磨, 使得样品足够薄. 你可以GOGGLE一下, 应该可以找到可参考的PROTOCOL的.zhuzhen(站内联系TA)cross-sectional TEM，关键是制样，材料测试版有人问过类似问题，可搜下wyw423(站内联系TA)好像可以树脂镶嵌然后切片来看，当然这是指比较容易切得样品了还有就是用玻璃保护镶嵌好了，磨片子，离子减薄yuan0019(站内联系TA)截面的话还是sem吧，简单很多的。MCWANDE(站内联系TA)SEM放大倍数没有TEM大, 纳米颗粒的细节一般看不到.现在还有三位TEM, 通过多个不同旋转角度的成像还原纳米颗粒的三维全貌. 不过最好由专业技术人员做比较好.dsc516(站内联系TA)用SEM好啊!如果要TEM的话，可能需要对截面进行处理，比如镀金。不镀的话，那TEM的电子穿透能力要调低。参与！！hongxinglee(站内联系TA)必须进行超薄切片，这个工艺本身就是一项研究，你可以联系别人给你做！制样的钱可能比看TEM的钱贵好几倍，中科院物理所电镜室最好了！但可能很贵，如果你的样品很好，必须做，做了能上很好档次的文章你可以试试。不然我还不觉得你不做算了！

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