SEM 可以测成分吗

这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。

可用。测量绝缘电阻一般用绝缘电阻测试仪进行测试。

绝缘电阻测试仪主要用来检查电气设备、家用电器或电气线路对地及相间的绝缘电阻，适用于测量各种绝缘材料的电阻值及变压器、电机、电缆及电器设备等的绝缘电阻，是电力、邮电、通信、机电安装和维修以及利用电力作为工业动力或能源的工业企业部门常用而必不可少的仪表。

绝缘电阻测试仪原理：

绝缘电阻测试仪主要是通过用一个电压激励被测装置或网络，然后测量激励所产生的电流，利用欧姆定律测量出电阻。例如，与数字多用表（DMM)上配备的欧姆表功能相比，这些电气测试器在进行电阻测量时施加的电压要高得多。

兆欧表采用的电压范围通常从50V到高达5kV；而典型数字多用表的电压一般小于10V。对于绝缘测试来说，需要测量的电阻值范围很大，其上限可达到10TΩ，所需的电压更高。

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