复合材料的形貌可采用金相,扫描电镜,描隧道电镜和原子力显微镜进行,试比较其区别

朋友，这是三类原理不同的显微镜。

金相显微镜是属于光学显微镜，主要用于观察材料表面的金相组织，分辨率受限于半波长，只有0.2um，无法得到更高分辨率的图像。

扫描电镜即SEM，属于第二代显微镜，是采用电子轰击样品表面进行成像，得到样品表面二维的形貌像，分辨率可以达到nm级别；只是它要求样品必须为导电样品，所以对于非导电样品需要进行前期的制样处理：喷金、银或碳等。

你说的描隧道电镜应该是扫描隧道显微镜，它和原子力显微镜统称为扫描探针显微镜，属于第三类显微镜，原理均为一根原子线度的极细的针尖作用在样品表面，通过检测针尖与样品表面之间的作用力来得到样品表面的形貌像，所不同的是扫描隧道显微镜只能检测导电样品，故应用范围受限（但分辨率最高：横向0.1nm，纵向0.01nm），而原子力显微镜则对样品无此要求，所以为最常用的一类扫描探针显微镜，分辨率为：横向：0.2nm，纵向：0.1nm；与电镜不同，这一类显微镜得到的是三维的图像。除此之外，扫描探针显微镜是一个大的家族，还包括：磁力显微镜、静电力显微镜、声学显微镜等二十多种。

希望可以帮到你。

材料的宏观性能往往与其本身的成分、结构以及晶体缺陷中原子的位置等密切相关。观察试样中单个原子像是科学界长期追求的目标。一个原子的直径约为1千万分之2—3mm。因此，要分辨出每个原子的位置需要0.1nm左右的分辨本领，并把它放大约1千万倍。

一、性质不同

1、SEM：根据用户使用搜索引擎的方式利用用户检索信息的机会尽可能将营销信息传递给目标用户。

2、TEM：把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。

二、原理不同

1、TEM

（1）吸收像：当电子被发射到高质量和高密度的样品时，主要的相位形成是散射。当样品的质量和厚度较大时，电子的散射角较大，通过的电子较小，图像的亮度较暗。早期透射电子显微镜（TEM）就是基于这一原理。

（2）衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各部分的不同衍射能力。当出现晶体缺陷时，缺陷部分的衍射能力与整个区域的衍射能力不同，使得衍射波的振幅分布不均匀，反映了晶体缺陷的分布。

2、SEM

（1）用户搜索；

（2）返回结果；

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（4）点击内容；

（5）浏览网站；

（6）咨询搜索。

扩展资料：

TEM特点：

1、以电子束为光源，电磁场为透镜。电子束的波长与加速电压（通常为50-120千伏）成反比。

2、它由五部分组成：电子照明系统、电磁透镜成像系统、真空系统、记录系统和电源系统。

3、分辨率为0.2nm，放大倍数可达一百万倍。

4、透射电镜分析技术是一种高分辨率（1nm）高倍率的电子光学分析技术，它以波长很短的电子束为光源，聚焦于电磁透镜成像。

5、用透射电镜分析样品，通常有两个目的：一是获得高倍率的电子图像，二是获得电子衍射图样。

6、透射电镜常用于研究纳米材料的结晶，观察纳米颗粒的形貌和分散度，测量和评价纳米颗粒的粒径。这是表征纳米复合材料微观结构的常用技术之一。

参考资料来源：百度百科-TEM

参考资料来源：百度百科-搜索引擎营销

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