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因为二氧化硅是原子构型是空间的,一个Si可以在空间中生成4个共价键(和C类似,因为是同一主族的),也就是一个Si可以连4个氧,再延展的话就是2个Si共用一个氧,所以在写分子式的就是SiO2要确定是否镀上一层sio2,首先要确定是否有sio2,可以通过X射线衍射仪(XRD)或者扫描电子显微镜(SEM)来检测。XRD可以检测出材料的晶体结构,以及晶体中各种元素的含量,可以确定是否有sio2。SEM可以检测出表面的结构,以及表面的厚度,可以确定sio2的厚度是否达到200字以上。另外,还可以通过原子力显微镜(AFM)来检测表面的结构,以及表面的厚度,以确定是否镀上一层sio2。总之,要确定是否镀上一层sio2,可以通过XRD、SEM和AFM等技术来检测,以确定是否有sio2,以及sio2的厚度是否达到200字以上。
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