SEM和电子探针使用特征的问题

SEM说俗了 就是用高速的电子打击标本 捕获打回来的电子 然后电脑分析 得到的图象就是物体表面的照片 和普通黑白照片没区别 只不过是很小很小的物体 在纳米级别上的迷你照片~

电子探针就不一样了 全名为电子探针X射线显微分析仪 又名微区X射线谱分析仪 听着听深奥 实际上就是把高速的电子打在物体上 这点和SEM一样 但是它捕获的不是电子 它要的是物体受到电子攻击产生的X线``（如果你大学物理学的好没挂科的话你应该记得一个叫做特征X线 它要的就是这个玩意） 因为这个X线含有标本的化学成分信息``所以它长用来分析物体里有什么 这样我们就知道标本里面有多少氢多少氧等等`

总结就是：都把高速的电子打到了标本上 SEM捕获了反弹回来的电子 从而知道了物体表面长什么样子 电子探针捕获了物体激发出来的X光 从而知道了物体里面有什么成分

SEM说俗了 就是用高速的电子打击标本 捕获打回来的电子 然后电脑分析 得到的图象就是物体表面的照片 和普通黑白照片没区别 只不过是很小很小的物体 在纳米级别上的迷你照片~ 电子探针就不一样了 全名为电子探针X射线显微分析仪

探针片，国内的标准约60-80um，当然是用于电子探针，电子探针分析时通过镀金或者镀炭达到导电的目的，然后分析；

光薄片，其实在国内指的是用于矿相鉴定的光片，即反光用的，有两种，一种是很厚很厚的，可以压在橡皮泥上放到反光显微镜下去看的；另一种厚度不定，因为主要是用于反光，不破损即可；

岩石薄片，就是用于显微镜鉴定的片子，通过30um，国内的情况是加盖薄片，在这里盖片有好处也有不好处，好处是有盖片，显微镜鉴定的时候很好，很清楚，不好就是盖上去了取不下来，至少不容易取下来，如果你要做电子探针或者SEM的话就没办法了，不盖吧，显微镜鉴定的时候可能会有点干扰；

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