测sem时的硅片的作用

检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜。扫描电镜SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。测sem时的硅片的作用检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜，硅片是生产集成电路、分立器件、传感器等半导体产品的关键材料，是半导体产业链基础性的一环。

可以买那种电极头可以拧下来的玻碳电极，我也是做这个的，在玻碳上电化学还原沉积石墨烯，不过我还没有做过表征，可以试一试，或者把表面那一层蹭到铜网上，只要在TEM上可以看到单层得结构就可以了。你是用什么方法表征上面已经是沉积了石墨烯呢·？呵呵，同行同行，多多交流哈~

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