你好···请问纳米级材料粒径检测时采用SEM的具体步骤能详细介绍一下么··谢谢··做实验有点急用··

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。

另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了，基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片，必须保持分散液状态来做电镜扫描。

M法和K法是DIN 50602里面的夹杂物评定方法，分别对应ISO 4967的A法和B法：

M法是最大尺寸法，一般评价各类夹杂物的最大值，相对简单

K法相对繁琐，非常耗时，需要统计规定观察区域内所有夹杂物类型，长度及宽度，然后通过查表计算K4的值

可以直接查DIN 50602这个标准，最好看英文版，中文版翻译有很多错翻和漏翻。

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