如何制备SEM样品的横断面

如何制备SEM样品的横断面,第1张

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理,因为氧化铝模板是脆性的,所以在掰弯的时候肯定有地方裂开,裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面,我用过这个方法,还算是比较有效的方法

你说的厚度如果用SEM只能粗略的估计,利用背景的亮度差别,其实效果不一定很好的。样品的制作只要你把样品粉末比较充分的分散,可以用去离子水,滴一滴就可以,样品制作的好坏关键就看分散性如何,不能太浓也不能太希

朋友,这是三类原理不同的显微镜

金相显微镜是属于光学显微镜,主要用于观察材料表面的金相组织,分辨率受限于半波长,只有0.2um,无法得到更高分辨率的图像。

扫描电镜即SEM,属于第二代显微镜,是采用电子轰击样品表面进行成像,得到样品表面二维的形貌像,分辨率可以达到nm级别;只是它要求样品必须为导电样品,所以对于非导电样品需要进行前期的制样处理:喷金、银或碳等。

你说的描隧道电镜应该是扫描隧道显微镜,它和原子力显微镜统称为扫描探针显微镜,属于第三类显微镜,原理均为一根原子线度的极细的针尖作用在样品表面,通过检测针尖与样品表面之间的作用力来得到样品表面的形貌像,所不同的是扫描隧道显微镜只能检测导电样品,故应用范围受限(但分辨率最高:横向0.1nm,纵向0.01nm),而原子力显微镜则对样品无此要求,所以为最常用的一类扫描探针显微镜,分辨率为:横向:0.2nm,纵向:0.1nm;与电镜不同,这一类显微镜得到的是三维的图像。除此之外,扫描探针显微镜是一个大的家族,还包括:磁力显微镜、静电力显微镜、声学显微镜等二十多种。

希望可以帮到你。


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