很急!说出5种以上高分子材料的表征方法及应用,请举例说明,

GPC：测试高分子的分子量及分子量分布指数

SEM/TEM/AFM：表征材料的表面形貌(注意原理不同)

FTIR：定性分析高分子含有的基团

NMR：定量分析聚合物的结构

UV-vis：可定量计算共聚物单体的个数

Dls：表征高分子溶液粒径

Lls：表征高分子溶液分子量

高分子材料测sem可以不用脆断

XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。

1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。

2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。

XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。

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