系统:DSF-60
扫描电镜是用来测样品表面材料的物质性能进行微观成像。
扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm;放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调;并且景深大、视野大、 成像立体效果好。
此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。
扫描电子显微镜简称为扫描电镜,英文缩写为SEM。它是用细聚焦的电子束轰击样品表面,通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观察和分析。现在扫描式电子显微镜都与能谱(EDS)组合,可以进行成分分析。所以,扫描式电子显微镜也是显微结构分析的主要仪器,已广泛用于材料、冶金、矿物、生物学等领域。扫描式电子显微镜行业上游主要包括电子元器件、光学仪器产品及其他配件。扫描式电子显微镜主要应用于主要用于纺织、化工、印染、仪器仪表、材料分析、教学科研等许多领域。
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