扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑

SEM就是观察表面形貌的一种方法。

对于块状材料，如果观察断口形貌，则要把样品打断，将断口在丙酮中超声处理，去除碎渣，再喷碳或金。

对于抛光样品，需要将抛光面腐蚀。腐蚀剂根据不同材料选择。

先用双面胶，在铝箔上用双面胶沾上许多碎玻璃片，记住编号；然后用去离子水稀释到固含量在0.1%以下（具体未知），然后超声分散（时间未知），然后用滴管将分散液滴到碎玻璃片上。将铝箔放入真空干燥箱中50℃干燥。用一金属样品台（表面是很光、平的），将乳液稀释到肉眼可看到又一点浑浊，用玻璃棒沾些，点到样品台上再喷金即可

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