关于SEM扫描电镜的几个问题，求大神出现...

如果是即将开始学习仪器操作的管理人员，建议先系统学习理论知识，再找专业的仪器工程师培训。如果是学生，要使用电镜，从安全角度考虑，1、2、3几项通常是值机人员完成的。我可以简单的向你介绍一下：1、主要是电源，只要能正常开机，一般无问题；2、加高压前一般要达到额定真空，否则气体电离度大、损伤电子枪，但是电镜软件一般都已经设置好，不到工作真空，根本加不上去高压，所以只要能够加高压，也无其他特别的问题；做完电镜关闭高压，等30秒以上，待灯丝冷却后再放气为宜，主要也是为了保护电子枪；3、样品台有它的额定移动距离，包括平面方向和上下方向，平面方向移动到极限时会有报警提示，看到提示往回移动即可。高度方向也如此，但是要注意向上移动时，要缓慢，要防止坚硬的试样撞击上方的探测器和极靴，损坏设备；4，电子束与试样作用，可激发出多种信号，如二次电子信号（用于形貌观察），背散射电子信号（用于区分微区成分)、俄歇电子信号(用于表面元素分析）、特征X射线（用于内部元素分析）、阴极荧光（用于发光材料研究），这些信号已经被有效的加以利用，这是一门独立的学科，若需要详细了解，你需要系统地学习一下。

SE2和Inlens均用于形貌观察，但Inlens信号更贴近表面，更适宜高倍近距离观察微观形貌。

SE2探测器常侧装于样品室上 接收二次电子外，还接收透射电子和部分背散射电子。其图像立体感强 主要在工作距离较大的情况下（ WD >5mm)使用，当工作距离过小时（ WD 物镜内安装的环形二次电子探测器（ Inlens 探测器），位于电子束光路中在小工作距离（WDx5mm）或低加速电压下操作，SE1被物镜下部安装的静电透镜加速，从物镜极靴内孔直上，会聚到探测器表面，SE2和其他电子被排斥。其仅接收来自电子束入射区的二次电子，因此分辨率高，图像质量好，但立体感较差。

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