sem形貌标尺要求

在做扫描电镜（SEM）测试时，大部分同学已经了解了SEM测试样品的相关要求，但是仍然有一部分同学不太清楚，今天铄思百检测小编整理了关于“SEM测试样品要求”希望能帮到大家！

SEM测试样品要求如下：

1.粉末、液体、薄膜、块体均可。粉末10mg，块体样品直径≤1cm，厚度＜1cm，；薄膜尺寸小于1*1*0.5cm；

2.混凝土，珊瑚沙，气凝胶，水凝胶等需要抽真空时间非常长的样品尺寸请尽可能直径≤5mm，厚度≤5mm

3. 需要脆断的样品，尺寸需要≥2*2cm，厚度＜0.5cm，较厚的样品建议尺寸准备大些；

要求样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击。

SEM测试制样流程：

1、块体：直接用导电胶粘在样品台上测试，若需拍块体/薄膜截面，需明确截面制备方法，一般可以提供剪刀裁剪和液氮脆断两种方式；

2、液体：用移液枪取样品超声后的悬浊液，滴一滴于硅片或锡纸上，自然风干/红外灯烘干，烘干后将硅片或锡纸用导电胶粘在样品台上测试；

3、粉末：（1）直接用导电胶粘在样品台上测试；（2）乙醇分散制样：取少量样品于离心管中，加入 一定量无水乙醇（或水），室温超声 5-10min，随后采用 2 中液体的制样方式制样测试。

SEM测试样品要求注意事项：

1、样品含水，湿润是不能做SEM的；

2、易分解样品需明确分解条件（如温度等），若样品极易分解可能不能安排测试，因为分解后产生物质可能对测试仪器造成影响；

3、水凝胶等易吸潮样品寄样前请先确认样品暴露 4-5h 内是否会出现明显的吸潮现象，测试过程中样品吸潮会影响拍摄的同时也会对仪器造成损伤；

4、导电性不好（如半导体金属氧化物、生物样品及塑料、陶瓷等）或强磁样品建议选择喷金，不喷金可能会影响拍摄效果。

铄思百检测可做的SEM测试项目有：

表面形貌观察、EDS能谱点扫、EDS能谱线扫、EDS能谱面扫（mapping）；可镀金，非磁、弱磁、强磁样品，生物样品均可拍摄。

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1、单晶结构：结晶体内部的微粒在三维空间呈有规律

地、周期性地排列，或者说晶体的整体在三维方向上由同一

空间格子构成，整个晶体中质点在空间的排列为长程有序。

2.多晶结构

多晶结构薄膜是由若干尺寸大小不等的晶粒所组成。

晶粒尺寸一般在10-100nm，亦称为微晶薄膜。

在薄膜形成过程中生成的小岛就具有晶体的特征（原子有规

则的排列）。由众多小岛聚结形成薄膜就是多晶薄膜。真空

蒸发与溅射法制成的薄膜多属于这种结构。

3、非晶结构（无定形结构或玻璃态结构）

它是一种近程有序结构。就是2～3个原子距离内原子排列是

有序的，大于这个距离排列是杂乱无规则的；

无定形结构薄膜在环境温度下是稳定的；

它或是具有不规则的网络结构（玻璃态，或是具有随机密堆

积的结构。前者主要出现在氧化物薄膜、元素半导体薄膜和

硫化物薄膜之中，后者主要出现合金薄膜之中）。

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