另外,要对经过分散的颗粒(液相)进行SEM拍照,需要再做涂膜后干燥才能操作,实际上在干燥的过程中,再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了,基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片,必须保持分散液状态来做电镜扫描。
问题一:请问粒度分布图和分布表怎么分析?谢谢! 一般粒度分析仪是通过代表性地扫描颗粒数目进行统计,图中蓝色曲线丁表每个粒度所占百分比,对应横坐标(粒度)和左边纵坐标(百分比);红色曲线代表粒度的累积百分比,对应横坐标(粒度)和右边纵坐标(百分比)。从图中可以看出,此颗粒较细,主要集中在50微米到150微米之间。
问题二:粒度分布图数值怎样分析 不知您的问题是不是用激光粒度仪测试后的测试报告中的具体数据代表什么意思,如果是的话我用图片给您解释一下,希望对您有所帮助。
不同仪器得出的测试报告虽然不是完全一致,但主要项还是一致的,我以济南微纳公司3003干法激光粒度仪的测试报告为例。
测试报告说明:
1.测试报告由6部分组成:表头、样品信息及测试信息、分析结果、图形、数据表、表尾。
2.量程:即测试范围,在软件的数据模板中选定。
3.分散介质:用于分散被测样品的介质。被测物质与分散介质不能发生化学反应,也不能在其中溶解。
4.分散剂:能够改变颗粒与液体之间的界面状态,促进颗粒充分分散的化学物质。
5.光学浓度:即遮光比。
6.样品浓度:即样品在分散介质中的体积百分比浓度,需要在系数校准设置中输入体积百分比计算系数后才能分析。
7.自由分布:由无约束自由拟合算法所得的样品本身固有的自然粒度分布。软件中还设有R-R分布和对数正态分布。
8.X10:颗粒累计分布为10%的粒径,即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的10%。
9.X50:颗粒粒径分布为50%的粒径,即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的50%。
10.X90:颗粒粒径分布为90%的粒径,即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的90%。
11.Xav:颗粒群的平均粒径。
12.S/V:体积比表面积,即单位体积颗粒的表面积。
13.X[3,2]:表面积平均粒径,是粒径对表面积的加权平均,又称索太尔平均径。14.X[4,3]:体积平均粒径,是粒径对体积(或重量)的加权平均,同上述Xav。
15.拟合误差:能谱数据向粒度分布数据转换时产生的计算误差。
16.自定义项目分析结果:用户根据需要自行添加的分析项目,添加该分析项目后,软件自动显示出结果。
17.粒度分布图表说明:
?横向是粒径值,该数值呈对数分布。
?左列是体积累计百分比,对应的是上升趋势的曲线图。
?右列是某一区间的体积百分比,对应的是起伏的直方图(或曲线图)。
18.数据列表是分析图表相对应的测试结果。
问题三:怎样形成粒径分布图 测试报告说明: 1.测试报告由6部分组成:表头、样品信息及测试信息、分析结果、图形、数据表、表尾。 2.量程:即测试范围,在软件的数据模板中选定。 3.分散介质:用于分散被测样品的介质。被测物质与分散介质不能发生化学反应,也不能在其中溶
问题四:粒度分布曲线图 有尖峰的曲线上的所有点,都代表那一粒度(横轴)的含量(左边纵轴)。
把下面数值在excel中做出来的图中,纵轴最大值定为13,尖峰就会有那么高了。
没有尖峰的曲线,叫“累积”线,是那点与小于那点含量的和,它用右边纵轴。d(0.5)是右边纵轴50与曲线交点,所对应的横轴;d(0.1)是右边纵轴10与曲线交点,所对应的横轴;d(0.9)是右边纵轴90与曲线交点,所对应的横轴。
问题五:如何用Origin统计粒径大小及分布 plot--statistic--histogram+probabilities,做好后双击统计柱形图,可以重新设置频数步长范围等,就可以得到你想要的结果(分析结果见生成的数据表)
问题六:如何用Origin统计粒径大小及分布 数据放在一列,类型设置为Y
选中这列数据,plot选项卡---Statistics---Histogram(如果要画累积分布曲线则选择Histogram+Probabilities)
如果想看统计的数据则可以在Graph界面右键--got to bin worksheet(步长等可以自己设置)
问题七:粒度分布图求解 这种粒度分布图好像不是汇美科气流筛分仪的,好像是激光粒度仪的测量结果。
问题八:粒度分布测量曲线如何解读 告诉我你的邮箱,我给你一篇我写的“粒度基本知识”。其中,前两段就是介绍“粒度分布曲线”如何解读的。
给软件固定一个标尺,之后粒径通过在图上划线得到相对长度,软件会记录你划的每一个粒径的长度,给出数字数据并做出分布图。首先打开图片。文件-打开。为了方便随后的划线误差小,也可以找一张局部高倍的。然后开始采集数据,给软件一个标尺,确定标尺长度和单位,开始取粒径数据。最后,导出数据。
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